Tokyo-2001: Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures

Contributed Papers

Author(s)
Title
A. Ando, T. Shimizu, Y. Nakayama, and H. Tokumoto

T. Arai, M. Tomitori, M. Saito and E. Tamiya

T. Ataka, K. Chinone

H. Azehara, Y. Suzuki, T. Ishida, W. Mizutani, K. Hiratani, and H. Tokumoto

H. Liu and B. Bhushan

S. Sundararajan, B. Bhushan, T. Namazu, and Y. Isono

G.M. Kim, B.J. Kim, M. Liebau, J. Huskens, D.N. Reinhoudt, and J. Brugger

G. Charras and M. Horton

S.-J. Cho and B. P. Jena

S. A. Contera and H. Iwasaki

P.G. Datskos, T. Thundat, D. M. Nicholson, G. Muralidharan, S. Rajic, T. M. Daniels_Race, and H. Li

W. Franks, D. Lange, S. Lee, A. Hierlemann, N. Spencer, and H. Baltes

S. Fujii, U. Akiba, and M. Fujihira

M. Fujita and M. Fujihira

M. Fujita, W. Mizutani, M.Gad, H.Tokumoto, H. Shigekawa

M. Gotoh, K. Sudoh, and H. Iwasaki

J.C. Mabry, T. Yau, H. W. Yap,and J.-B.D. Green

A. G. Hansen, A. Boisen, and J. Ulstrup

H. Haschke, M. Antognozzi, M. J. Miles, and S. Sheppard

K. Hayashi, N. Saito, H. Sugimura, O. Takai and N. Nakagiri

G. Charras and M. Horton

Y. Hoshi, T. Kawagishi and H. Kawakatsu

I. Ikeda, H. Sugimura, and O. Takai

M. Ishibashi, S. Heike, M. Kato, and T. Hashizume

H. Jensenius, M. Osbourn, D. C. G. Klein, T. H. Oosterkamp, F. D. Tichelaar, T. Schmidt, and A. Boisen

A. Kato, M,Nagashio, D.Saya, D,Kobayashi, H.Fujita, and H.Kawakatsu

K. Kametani, K. Sudoh, and H. Iwasaki

S. Kawai, K. Fukushima, A. Kato, D. Saya, H. Toshiyoshi, H. Fujita, and H. Kawakatsu

T. Kawagishi, A.Kato, Y. Hoshi, and H. Kawakatsu

Y. Kikkawa, H. Abe, T. Iwata, Y. Inoue, and Y. Doi
J.M. Kim, T. Ohtani, S. Sugiyama, T. Hirose, H. Muramatsu
K.-J. Kwak, H. Muramatsu, and M. Fujihira

Y. K. Jang, S. A. Kim, S. J. Ahn, E. R. Kim, and H. Lee

S. M. Kim, S. H. Lee, S. J. Ahn, H. Lee, E. R. Kim, and H. Lee

A. Limansky

A. Limansky

R. Marie, H. Jensenius, J. Thaysen, C.B. Christensen, and A. Boisen

L.McDonnell

M.Moloney, L.McDonnell and H.O'Shea

W.-C. Moon, T. Yoshinobu, and H. Iwasaki

H. Muramatsu, and J. M. Kim

T. Murase, T. Iwata, and Y. Doi

K. Nakajima, V. Jacobsen, J. Noh, D. Fujita, and M. Hara

A. Nakasa, K. Yagi, U. Akiba, and M. Fujihira

Y. Narita and S. Kimura

T. Nishimura, M. Iyoki, and S. Sadayama

J. Noh, E. Ito, and M. Hara

K. Ogawa, M. Saito, Y. Murakami, T. Ushiki, and E. Tamiya

T. Ohzono and M. Fujihira

H. Okamoto, Y. Ohta, and T. Okuda
H. Okamoto, Y. Ohta, and T. Okuda

N. Okubo, and T. Yamaoka

M. Ono, D. Lange, O. Brand, C. Hagleitner, and H. Baltes

S. Ono, M. Takeuchi, and T.Takahashi

R. Garcia and A. S. Paulo

A. Ptak, S. Takeda, C. Nakamura, J. Miyake, M. Kageshima, S. P. Jarvis, and H. Tokumoto

A.N. Round, M. Berry, T.J. McMaster, A.P. Corfield, and M.J. Miles

M. Saito, Y. Murakami, K. Yokoyama, S. Tate, and E. Tamiya

A. Sandhu, H. Masuda, A. Oral, S. J. Bending, A.Yamada, and M. Konagai

H. Okui, F. Sato, U. Akiba, K. Suga, and M. Fujihira

D. Saya, K. Fukushima, H. Toshiyoshi, G. Hashiguchi, H. Fujita, and H.Kawakatsu

T. Shiokawa, T. Ohzono and M. Fujihira

K. Sudesh1, Z. Gan1, K. Matsumoto2, and Y. Doi

H. Sugimura, T. Hanji, K. Hayashi, and O. Takai

S. Sugiyama, X. Liu, T. Yoshino, S. Hagiwara, and T. Ohtani
Y. Suzuki, W. Mizutani, T. Nakanishi, H. Okamoto,Y. Nagai, K. Takeda, I. Obataya, and H. Mihara
K. Takada, M. Takeuchi, and T. Takahashi

H. Takahashi, K. Ando, and Y. Shirakawabe

S. Takeda, A. Ptak, C. Nakamura, J. Miyake, M. Kageshima, S.P. Jarvis, and H. Tokumoto

C. Teichert

S. Kremmer, C. Teichert, E. Pischler, H. Gold, F. Kuchar, and M. Schatzmayr

M. Tomitori, N. Edo, and T. Arai

K. Umemura, S. Ikawa, T. Shibata, M. Ishikawa, and R. Kuroda

S. Wakamatsu, U. Akiba, and M. Fujihira

T. Wang, H. Arakawa and A. Ikai

K. Yagi and M. Fujihira

T. Yamada, H. Arakawa, T. Okajima, T. Shimada, and A. Ikai

T. Yamaoka and T. Miyata

M. Yasutake, Y. Shirakawabe, T. Okawa, S. Mizooka, and Y. Nakayama


Last updated on 9 May 2001
This site is maintained by Takuji TAKAHASHI of Institute of Industrial Science, University of Tokyo, JAPAN
I
f you have any comments about this Web Site, please contact me by E-mail.