東京大学生産技術研究所駒場分析コアは、分析装置の共同利用を通して学内外研究組織、民間企業（特にベンチャー企業）をサポートし、学術研究の発展とベンチャービジネスにおけるイノベーションの創出に貢献することを目的としている、ユニークな分科会です。
今回、微細構造解析が可能なFIB/SEMとS/TEM装置の２つをご紹介するセミナーを企画致しました。
未経験の方でもお気軽にご参加ください。皆様のご参加をお待ちしております。

■日時：10月2日（水）13:00～16:35
■会場：東京大学　生産技術研究所　D棟6階大セミナー室（Dw601）
　　　　　アクセス　https://www.iis.u-tokyo.ac.jp/ja/access/　　
■参加費：無料
■申込：下記フォームより事前申し込みを、お願いいたします。
　　　　　※定員40名、締切 9月27日（金）
　　　　　https://forms.office.com/r/Ji1HryUrXs
■問い合わせ：東京大学生産技術研究所　講師　徳本 有紀　
　　　　　　　tokumoto[at]iis.u-tokyo.ac.jp（[at]を@に換えてください）

■プログラム
13:00～13:05　
開会挨拶
13:05～15:00　
・Thermo Fisher Scientific DualBeamシステムとS/TEMシステムの概要とアプリケーションのご紹介
　石丸 雅大（Thermo Fisher Scientific 日本FEI）他
・駒場分析コアTalosを用いた分析事例
　徳本 有紀（東京大学生産技術研究所）他　　　　　　　
15:15～16:30
・駒場分析コアTalosバーチャル見学会およびオンラインデモ
　関口 浩美（Thermo Fisher Scientific 日本FEI）
16:30～16:35　
閉会挨拶
終了後、ご希望の方には具体的な分析に関するご相談や、実際の装置見学をしていただけます。