最新の研究
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水のぬれを支配する「線張力」の起源を解明――接触線での水分子構造の崩壊が符号反転を生む――
水のぬれを支配する「線張力」の起源を解明――接触線での水分子構造の崩壊が符号反転を生む――

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東京大学 生産技術研究所 着霜制御サイエンス社会連携研究部門(研究当時)/同大学 先端科学技術研究センターの田中 肇 特任研究員(東京大学名誉教授)と 東京大学大学 生産技術研究所 着霜制御サイエンス社会連携研究部門(研究当時)/同大学 先端科学技術研究センターのモイド モハド 特任研究員の研究グループは、水滴・固体・気体の境界線に働く「線張力」の微視的起源を、分子レベルで明らかにしました。
線張力は表面化学だけで決まるのではなく、接触線での水分子の四面体構造の崩壊によって大きさだけでなく符号まで反転することを示しました。
さらに、親水性基板上に形成された二分子層氷が、構造ミスマッチのために見かけ上疎水的に振る舞うことを見出し、ぬれの制御に新たな分子設計指針を与えました。