二瓶研究室の研究内容


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研究の概略

物質工学もしくは材料工学(Materials Engineering)の分野においては，の3つが緊密に結び付き，お互いに関連しあう事により，初めて大きな進歩が生じます．
本研究室では，物質情報分析・化学情報分析の観点から，新たな表面・界面分析手法および 局所・微小量分析手法の開発，応用を目指しています． また環境科学の立場から，環境化学計測における新たな分析手法の確立も目的としています． さらには，新たに見出した現象に基づく，新しいタイプの分析手法の確立および計測機器の開発と， その手法の他の分野への応用も目指しています．

研究分野

  1. 光電子回折による表面・界面構造解析

    1. 光電子回折法による薄膜表面・界面の構造解析
    2. シンクロトロン放射を用いたエネルギースキャン光電子回折
    3. X線エネルギ−領域における光電子回折現象の解明
    4. 新しいタイプのX線光電子回折測定装置の開発

  2. サブミクロン2次イオン質量分析装置の開発およびその応用

    1. 収束イオンビームによる表面微小領域解析法の基礎的・理論的検討
    2. Ga収束イオンビーム2次イオン質量分析法による サブミクロン領域での微小粒子・微量体積試料の構造解析
    3. イオン・電子デュアル収束ビームによる微小領域3次元構造解析法の開発

  3. 大気浮遊粒子状物質の環境化学分析

    1. 都市空間における大気浮遊粒子状物質の粒子別起源解析
    2. アジア諸国における大都市沿道での大気浮遊粒子状物質の粒子別起源解析 およびその国際比較

主要機器

(最終更新：1997年6月26日)

現在、研究分野については全面改装のため部分公開中です。漸次追加いたします。

制作・連絡先： issie@iis.u-tokyo.ac.jp (石井秀司）